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產品介紹

掌上型/入門AFM
掌上型/入門AFM
主要特點:        
1. 輕鬆、快速取得奈米表面特徵
2. 操作直覺,快速上手
3. 全球最小且效能強悍
4. 最經濟實惠最好入手的奈米量測利器
5. 台灣設計製造,在地服務,品質保證。

目的:
提供三維表面形態影像,包括表面粗糙度、粒徑大小、高度差和間距

型號: CrabiAFM-E(入門型), CrabiAFM-A(教育型)
概觀

想在有限的實驗室空間、與有限的預算中找到一台專屬於自己的奈米量測設備,

原來可以這麼簡單!

全球最輕巧、掌上型AFM,提供物理教育、基礎奈米研究一個嶄新的選擇!

強悍的效能,精緻扎實的結構設計,也是科技與藝術的結合,

即將掀起奈米量測普及化的巨大革命!

 

機台側視圖,上掀蓋輕鬆更換樣品

 

快速拆裝探針座設計

 

機構設計

 

技術規格

測試結果:

Picture

TGQ1 標準樣品  

 

 

標準樣品

奈米顆粒

實驗及教學狀況

 

規格表

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 


如對此AFM有何技術上之問題或委測需求,歡迎來電: 02-2793-3133 或MAIL至 david.chang@utekmaterial.com

我們將為您提供最即時的諮詢與技術服務。

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